Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В338.28<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 14
Представлено документи з 1 до 14
|
1. | ДС57483 Ушаков, Андрей Викторович. Динамика и кинетика электронов в ионно- пучковых системах холловского типа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрей Викторович ; НАН Украины, Науч. физ.-технол. центр. - Х., 1998. - 142 л. - Бібліогр.: л. 131-140.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины; Научный физико-технологический центр (Харьков)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 2. | РА299815 Ушаков, Андрій Вікторович. Динаміка та кінетика електронів в іонно- пучкових системах холлівського типу [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрій Вікторович ; НАН України, Наук. фіз.-технол. центр. - Х., 1998. - 15 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Науковий фізико-технологічний центр (Харків)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 3. | 1881/Т-181 Тангоффер, Людвиг. Микроскоп и его употребление [Текст] : руководство к общей микроскопической технике для врачей и студентов: Пер. с нем. / Л. Тангоффер ; предисл. Н. А. Хржонщевский. - К. : Издание киевского книгопродавца Л.В. Ильницкого, 1881. - ХVІ, 231 с.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Хржонщевский, Н. А. (предисл.)
Видання зберігається у :
| 4. | ВС46702 Рид, Стефан Дж. Б.. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Д. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петров [и др.]. - М. : Техносфера, 2008. - 232с.: рис., табл., [4 ]л. фот. - (Мир наук о Земле ; v-02). - Библиогр.: с. 205. - ISBN 978-5-94836-177-2. - ISBN 0-521-84875-X(англ.)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Петров, Д. Б (пер. с англ.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 5. | Глушков В.М./ВА71 Деркач, Виталий Павлович. Электроннозондовые устройства [Текст] / В. П. Деркач, Г. Ф. Кияшко, М. С. Кухарчук ; АН УССР, Ин-т кибернетики. - К. : Наукова думка, 1974. - 268 с. : рис. - Бібліогр.: с. 251-266. - 1550 прим. З дарчим написом В. М. Глушкову.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Кияшко, Галина Фёдоровна; Кухарчук, Маргарита Сергеевна; Академия наук Украинской ССР (Киев); Институт кибернетики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 6. | В277162/1 Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 . Vol. 1 : General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 2nd ed. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58415-3. - ISBN 0-387-58415-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Anselmetti, D. (with contrib. by.); Behm, R. J. (with contrib. by.); van Bentum , P. J. M. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
| 7. | В277162/2 Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 . Vol. 2 : Futher applications and related scanning techniques / with contrib. by W. Baumeister [etc.]. - 2nd ed. - 1995. - XIV, 349 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 28). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58589-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Baumeister, W. (with contrib. by.); Grütter, P. (with contrib. by.); Guckenberger, R. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 8. | В277162/3 Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 . Vol. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods. - 2nd ed. - 1996. - XV, 402 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 29). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-60824-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 9. | MFI4189/1-2 Klemenc, Michaela. Ballistic electron emission microscopy on low dimensional structures [Text] : diss. / M. Klemenc ; Swiss Federal Institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 101 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13894) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal Institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
| 10. | ІР7373 Geometric characteristics of the SEM electron probe [Text] / E. S. Gornev [a.o.]. - Moscow : [б.в.], 2002. - 56 p.: fig. - (Prepr. / Russian Academy of Sciences. General Physics Institute ; 5). - Бібліогр.: p.51-56Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Gornev, E. S.; Novikov, Yu. A.; Rakov, A. V.; Volk, Ch. P.; Russian Academy of Sciences. General Physics Institute
Видання зберігається у :
| 11. | ІВ211085 Micro et nanothermique [Text] / coord. S. Volz. - Paris : CNRS, 2007. - 387 p.: fig., tab. - (Collection "Sciences et techniques de l'ingénieur"). - Бібліогр.: v kinci st. - ISBN 978-2-271-06462-2Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Volz, Sebastian (coord.)
Видання зберігається у :
| 12. | ІВ211080 Aigouy, Lionel. Les nouvelles microscopies: á la découverte du nanomonde [Text] / L. Aigouy [та ін.]. - Paris : Belin, 2006. - 304 p.: fig., tab. - (Collection "Échelles", ISSN 1635-8414). - Бібліогр.: v kinci st. - ISBN 2-7011-3648-2Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: De Wilde, Yannick; Frétigny, Christian
Видання зберігається у :
| 13. | MFI4282/1-2 Lange, Dirk. Cantilever-based microsystems for gas sensing and atomic force microscopy [Text] : diss. / D. Lange ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 183 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13984) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
| 14. | MFI3992/1-2 Baumann, Daniel Guy. Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop [Text] : Diss. / D. G. Baumann ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1999. - 127 S.: Abb. - (Diss.ETH ; 13267) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
|
|
|