MFI4189/1-2
Klemenc, Michaela.
Ballistic electron emission microscopy on low dimensional structures [Text] : diss. / M. Klemenc ; Swiss Federal Institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 101 p.: fig. - (ETH-DISS ; 13894)
2 mfishe

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 
 В377.1 
Тематичні рубрики:
 Електронні і іонні мікроскопи 
 Електричні властивості твердих тіл 


Дод. точки доступу:
Swiss Federal Institute of technology Zürich

Видання зберігається у :