Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В372.1$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 250
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. | ІР7132 An express method for determination of crystal perfection using synchrotron radiation [Text] / I. P. Karabekov [a.o.]. - Yerevan : CNIIatominform, 1988. - 11 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1117(80)-88). - Бібліогр.: p.11Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Karabekov, I. P.; Egikian, D. L.; Mikaelian, R. A.; Danielian, V. Zh.; Hovakimian, G. G.; Yerevan physics institute
Видання зберігається у :
| 2. | В277192/2 Analiză structurală prin metode fizice [Text]. - Bucharest : Ed. Acad. Republicii Socialiste România, 1984 . Vol. 2 / Emil Luca, Mihai Chiriac, Mitachi Strat, Virgil Bărboiu. - 1985. - 269 p. : fig., tab. - Бібліогр. в кінці розд.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Luca, Emil; Chiriac, Mihai; Strat, Mitachi; Bărboiu, Virgil
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 3. | ІР8288 Critical effects at a first-order phase transition im Ni(NH3)6(NO3)2 as observed by incoherent neutron scattering [Text] / J. A. Janik [et al.]. - Kraków : [Inst. fizyki i techniki jądrowej AGH], 1993. - 9 p. : fig. - (Raport / H. Niewodniczański inst. of nuclear physics ; nr 1614/PS). - Бібліогр.: с. 8-9. - 105 прим.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Janik, J. A.; Janik, J. M.; Otnes, K.; Riste, T.; Stanek, T.
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 4. | В277781/3 Dziadur, Wiesław Mikroskopia elektronowa [Text] / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. - Kraków : Politechnika Krakowska, 2019 . T. 3 : Praktyczna mikroskopia skaningowa : wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej / Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. - Kraków, 2019. - 519 s. : rys. - (Przewodniczący Kolegium redakcyjnego wydawnictw dydaktycznych). - Бібліогр. в кінці ст. - 200 egz. прим. - ISBN 978-83-65991-85-0Рубрикатор НБУВ: УДК: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Mikuła, Janusz; Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 5. | ІВ197271 Dąbrowska-Szata, Maria. Dyfrakcja odbiciowa elektronów o dużej energii w badaniach powierzchni ciała stałego [Text] / M. Dąbrowska-Szata. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2000. - 161 s.: rys. - Бібліогр.: S.154-161. - ISBN 83-7085-463-XРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
| 6. | ІС14987 Eggert, Dennis. Application of nanoparticles in correlative super-resolution light and electron microscopy [Text] : diss. / Dennis Eggert ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2014. - 131 l. : fig. - Бібліогр.: арк. 106-112Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Universität Hamburg (Hamburg). Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 7. | ІВ206003 Gotszalk, Teodor Paweł. Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro-i nanostruktur [Text] / T. P. Gotszalk. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2004. - 240 s.: rys. - Бібліогр.: s. 218-240. - ISBN 83-7085-844-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
| 8. | MFI3599/1-2 Hediger, Sabine. Improvement of heteronuclear polarization transfer in solid-state NMR [Text] : diss. / S. Hediger ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1997. - 179 p.: fig. - (DISS ETH ; 12106) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
| 9. | ІС14536 Kalaydzhyan, Aram. Investigation of the influence of crystal quality on Borrmann spectroscopy [Text] = Untersuchung des Einflusses der Kristallqualität auf Borrmann Spektroskopie : thesis / Aram Kalaydzhyan ; Univ. of Hamburg, Dep. of physics. - Hamburg : [s. n.], 2012. - III, 35 p. : fig. - (DESY-THESIS-2012-046 / Deutsches Elektronen-Synchrotron. Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft, ISSN 1435-8085). - Текст англ. - Бібліогр.: с. 35Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: University of Hamburg (Hamburg). Department of physics
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 10. | ІР7134 Karabekov, I. P.. Investigation of crystal perfection by measuring of collimatig slit image widening in diffracted synchrotron radiation [Text] / I. P. Karabekov, D. L. Egikian. - Yerevan : CNIIatominform, 1988. - 10 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1120(83)-88). - Бібліогр.: p.10Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Egikian, D. L.; Yerevan physics institute
Видання зберігається у :
| 11. | ІС12092 Klingeler, Rainer. Erzeugung und elektronische Struktur von endohedral dotierten Fullerenen [Text] : Diss. / R. Klingeler ; Universität Zürich. Math.-naturwiss. Fak. - Zürich : [б.в.], 2001. - 129 S.:Abb. - Бібліогр.: S.119-125Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Universität Zürich. Math. -naturwiss. Fak.
Видання зберігається у :
| 12. | ІС14226 Langer, Thomas. Niedrigdimensionale Plasmonen in epitaktischen Graphenlagen [Text] : Diss. / Thomas Langer ; Fak. für Mathematik und Physik der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover : [s. n.], 2012. - 183 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 171-183Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität (Hannover). Fakultät für Mathematik und Physik
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 13. | MFI5408/1-2 Magnano, Elena. Artificial nanostructure-based interfaces [Text] : diss. / E. Magnano ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2004. - 111 p.: fig. - (ETH-Diss ; 15201) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
| 14. | ІВ223262 Menzel, Magnus. Elemental analysis and characterization of surface and boundary layers using X-ray fluorescence analysis [Text] : diss. / Magnus Menzel ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2015. - 124 p. : fig. - Бібліогр.: с. 116-124Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Universität Hamburg (Hamburg). Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 15. | MFI2824/1-2 Meyer, Holger. Festkorperkernresonanz-Spektroskopie und Röntgenbeugung an Pulvern: komplementare Methoden zur strukturellen Charakterisierung mikrokristalliner anorganischer Materialien [Text] : Abh. / H. Meyer ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 138 S.:Abb. - (Diss ETH ; 11123) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
| 16. | ІР7159 Orientational dependence of high energy electron multiple scattering at small angles of incidence to crystal [Text] / A. R. Avakyan [a. o.]. - Yerevan : CNIIatominform, 1987. - 8 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1024(74)-87)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Avakyan, A. R.; Avakyan, R. O.; Avetissyan, A. E.; Arutunyan, A. S.; Danagulyan, S. S.; Yerevan physics institute
Видання зберігається у :
| 17. | ІС15516 Roedig, Philip. A new fixed-target approach for serial crystallography at synchrotron light sources and X-ray free electron lasers [Text] : diss. / Philip Roedig ; Univ. of Hamburg, Dep. of physics. - Hamburg, 2017. - 185 p. : fig. - (Deutsches Elektronen-Synchrotron / Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft, ISSN 1435-8085 ; DESY Thesis-2017-027, July 2017). - Бібліогр.: с. 163-181Рубрикатор НБУВ: УДК: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: University of Hamburg (Hamburg). Department of physics
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 18. | В277162/1 Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 . Vol. 1 : General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 2nd ed. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58415-3. - ISBN 0-387-58415-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Anselmetti, D. (with contrib. by.); Behm, R. J. (with contrib. by.); van Bentum , P. J. M. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 19. | ІВ215846 Schmidt, Hennrik. Zweidimensionale Kohlenstoffkristalle: Elektrischer Transport in Einzel- und Doppellagen-Graphen [Text] : Diss. / Hennrik Schmidt ; Fak. für Mathematik und Physik der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover : [s. n.], 2012. - 187 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 165-177Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität (Hannover). Fakultät für Mathematik und Physik
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 20. | ІВ209869 Seitz, Christoph. Charakterisierung von Defekten in SiC-Kristallen mit einem 3-Achsen-Diffraktometer für hohe Röntgen-Energien [Text] : Diss. / C. Seitz ; Naturwissenschaftlichen Fak. der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [б.в.], 2005. - 145 S.: Abb. - Бібліогр.: S.127-136Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Naturwissenschaftlichen Fak. der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Видання зберігається у :
|
| |
|
|