|
|
ІВ223262
Menzel, Magnus.
Elemental analysis and characterization of surface and boundary layers using X-ray fluorescence analysis [Text] : diss. / Magnus Menzel ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2015. - 124 p. : fig. - Бібліогр.: с. 116-124Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Universität Hamburg (Hamburg). Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|