 Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>I=Ж14840/2020/4<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
 |
Український метрологічний журнал : наук.- техн. журн..- Харків
Ukrayinskyy metrolohichnyy zhurnal- Титул.
- Зміст.
- Zakharov I., Botsiura O., Semenikhin V., Fomenko V. Considering of the input quantities distributions in the procedure for measurement uncertainty evaluating on the example of resistance box calibration. - C. 3-8.
- Petrishchev O., Nozdrachova K., Suchkov G., Mygushchenko R., Kropachek O., Slobodchuk A. Study of transmission characteristics of disk transducer in the radially propagated Rayleigh wave excitation mode. - C. 9-15.
- Neyezhmakov P., Narodnytskyi G. Measures to ensure the necessary accuracy of accounting petroleum products in the tanks. - C. 16-21.
- Біліщук В. Б. Метрологічні дослідження вимірювання міжфазного натягу рідин методом обертової краплі. - C. 22-28.
- Шпак С. В., Кожушко Г. М., Кислиця С. Г., Сахно Т. В., Пітяков О. С. Дослідження фотобіологічної безпечності світлодіодних ламп та світильників для загального освітлення. - C. 29-35.
- Неєжмаков П. І., Ляшенко О. М., Тимофеєв Є. П., Купко О. Д., Литвиненко А. С., Васильєва Ю. О. Фотометр для контролю світлотехнічних параметрів світло діодів. - C. 36-42.
- Suchikova Ya., Kosach N., Bolshakov V., Shishkin G. Synthesized nanostructures formation time effect on their morphological quality indicators ‒ pore diameter increase in nanostructured coatings. - C. 43-49.
- Hasanov Yu., Velychko O. The features of the CIPM MRA implementation by the Azerbaijan Republic. - C. 50-56.
- Маmonov К., Velychko V., Grуtskov E., Haidenko S., Prasol V., Abolhacanzad Alireza Econometric modeling of investment attractiveness of enterprises. - C. 57-63.
- Рішення ХII Міжнародної науково-технічної конференції "Метрологія та вимірювальна техніка” ("Метрологія–2020”). - C. 64-65.
- Перелік статей та інших матеріалів, опублікованих в "Українському метрологічному журналі” у 2020 році. - C. 66-68.
- Алфавітний покажчик авторів статей. - C. 69-70.
- Оголошення про набір на курси підвищення кваліфікації фахівців. - C. 71-72.
| 2020 | | № 4
|
|
|
|
Простий
Розширений
