Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Книжкові видання та компакт-диски - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (29)
Пошуковий запит: (<.>U=В343.54$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
1.
ВА681784

Діагностика поверхні поляризованим світлом [Текст] / Л. В. Поперенко [и др.] ; Київський національний ун-т ім. Тараса Шевченка. - К. : ВПЦ "Київський ун-т", 2007. - 336 с.: рис. - Бібліогр.: в кінці розділів. - ISBN 966-594-882-2

Рубрикатор НБУВ:
 В343.54,021 
 Ж102.34 
Тематичні рубрики:
 Еліпсометрія 
 Оптичні методи вимірювань 


Дод. точки доступу:
Поперенко, Леонід Володимирович; Стащук, Василь Степанович; Шайкевич, Ігор Андрійович; Одарич, Володимир Андрійович; Київський національний університет імені Тараса Шевченка

Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд
Основний фонд

2.
РА398063
Мішакова, Тетяна Олександрівна.
Еліпсометрія напівпровідникових планарних наноструктур з урахуванням ефектів ближнього поля [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Мішакова Тетяна Олександрівна ; [Нац.] акад. наук України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К., 2013. - 18 с. : рис., табл.

Рубрикатор НБУВ:
 В371.211,022 
 В343.54,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Консолідовані наноструктури > 
 Дисертації < Еліпсометрія > 


Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова (Київ)

Видання зберігається у :
Основний фонд

3.
РА424021
   Коструба, Андрій Михайлович.
Еліпсометрія ультратонких плівкових структур [Текст] : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.05 / Коструба Андрій Михайлович ; Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха. - Львів, 2016. - 32 с. : рис.

Рубрикатор НБУВ:
 В343.54,022 
 В372.6,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Еліпсометрія > 
 Дисертації <Тонкі шари твердих тіл> 


Дод. точки доступу:
Інститут фізичної оптики імені О. Г. Влоха (Львів)

Видання зберігається у :
Основний фонд

4.
ВА810826
Одарич, Володимир Андрійович.
Прикладна фотометрична еліпсометрія [Текст] / В. А. Одарич. - Київ : ПУЛЬСАРИ, 2017. - 413, [1] с. : рис., табл. - Бібліогр. в кінці розд. - 200 прим. - ISBN 978-617-615-072-5

Рубрикатор НБУВ:
 В343.54,0 
 В379.2,0 
УДК:
 681.785.3:621.315.59 
Тематичні рубрики:
 Еліпсометрія 
 Загальні роботи < Фізика напівпровідників > 


Видання зберігається у :
Основний фонд
Універсальний підсобний фонд
Відділ міжбібліотечного науково-інформаційного сервісу

5.
ВА811651
   Влох, Ростислав Орестович.
Еліпсометрія ультратонких плівкових структур [Текст] : монографія / Влох Р. О., Коструба А. М. ; Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха. - Львів : Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха, 2017. - 293 с. : рис., табл. - Бібліогр.: с. 260-293. - 15 прим. - ISBN 978-966-97386-3-9

Рубрикатор НБУВ:
 В343.54,021 
 В372.6,021 
УДК:
 53.082.5 
Тематичні рубрики:
 Еліпсометрія 
 Монографії < Тонкі шари твердих тіл > 


Дод. точки доступу:
Коструба, Андрій Михайлович; Інститут фізичної оптики імені О. Г. Влоха (Львів)

Видання зберігається у :
Основний фонд

 
Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського