Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=TABACHKOVA N. YU.<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Eidelman K. B. 
Influence of Order of Double Step Implantation of 64Zn+ and 16O+ Ions into Si on Formation of Zinc-containing Nanoparticles [Електронний ресурс] / K. B. Eidelman, K. D. Shcherbachev, N. Yu. Tabachkova, A. V. Goryachev, D. M. Migunov, D. A. Doronova // Журнал нано- та електронної фізики. - 2015. - Т. 7, № 4. - С. 04028-1-04028-3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2015_7_4_30
This paper presents the research the formation of zinc-containing nanoparticles (NPs) in Si (001) after double-step hot implantation of 64Zn+ and 16O+ ions. High-resolution Transmission Electron Microscopy (HRTEM) and X-ray Diffraction (XRD) methods were used to study a crystal structure of the samples. Depth profiles of implanted impurity atoms were measured by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). Zn NPs with a size of 3 up to 50 nm were found in the implanted samples. Zinc-containing NPs with the size of 5 - 10 nm were found in the surface layer of as-implanted Si substrates. The effect of the order of implantation on structural defects and the impurity atoms depth profiles is established.
Попередній перегляд:   Завантажити - 470.568 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського