Наведено характеристики 512-канальної мікродетекторної системи, створеної для дослідження швидкоплинних процесів у металах у процесі їх нагрівання/охолодження на установці швидкісної рентгенографії. Положення, ширина та інтенсивність дифракційних піків розсіяних рентгенівських квантів виміряно та відображено в реальному часі залежно від температури досліджуваного зразка (20 - 1500 <^>OC). Позиційна чутливість системи на базі мікростріпових кремнієвих сенсорів, зчитуваних комерційною системою накопичення даних XDAS, становить 40 мкм у діапазоні кутів розсіяння рентгенівських квантів <$E 30~<<~THETA~<<~75 symbol Р>.

  Повний текст PDF - 887.151 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"