| Наукова періодика України |
| Ядерна фізика та енергетика |
Soroka V. I. Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements / V. I. Soroka // Ядерна фізика та енергетика. - 2015. - Т. 16, № 4. - С. 421-425. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/yadf_2015_16_4_16 До типової схеми зворотного розсіяння додається монітор-переривник пучка прискорених іонів. Процедура вимірювання товщини тепер потребує набору двох спектрів. Один спектр отримується для досліджуваної мішені, а другий - для мішені, що імітує товсту підкладку. Однакові експозиції за набору обох спектрів забезпечуються монітором-переривником. Якщо підібрати підкладку з того ж самого хімічного елемента, що й досліджувана мішень, то кінцева формула для розрахунку товщини значно спрощується. Сфера застосування методу поширюється як на самопідтримуючі плівки, так і на поверхневі шари. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Soroka V. I. Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements / V. I. Soroka // Ядерна фізика та енергетика. - 2015. - Т. 16, № 4. - С. 421-425. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/yadf_2015_16_4_16. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" |
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
|||||
