Наукова періодика України | Вісник Київського національного університету технологій та дизайну | ||
Шевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія : Технічні науки. - 2015. - № 5. - С. 226-232. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/vknutdtn_2015_5_34 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Шевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія : Технічні науки. - 2015. - № 5. - С. 226-232. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/vknutdtn_2015_5_34.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |