Наведено стислу характеристику національного та міжнародних стандартів електронних цифрових підписів, описані передумови для генерації загальносистемних параметрів еліптичних кривих високого та надвисокого рівнів стійкості. Проведено теоретичний аналіз існуючих алгоритмів обчислення кількості точок на еліптичних кривих, що визначені над бінарним полем. Реалізовано на практиці алгоритми, що аналізувалися, а за одержаними результатами здійснено порівняння за критерієм складність-стійкість з іншими роботами у даному напрямку. Показано перспективні алгоритми для обчислення порядку еліптичних кривих з подальшою можливістю використання у якості базових параметрів для національного стандарту електронного цифрового підпису.

  Повний текст PDF - 595.804 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"