Наукова періодика України Наука та інновації

Чапон П. 
Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™ / П. Чапон, О. К. Костенко // Наука та інновації. - 2012. - Т. 8, № 2. - С. 34-38. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2012_8_2_8
Methods of optical emission spectrometry of grow HF-dis charge are described. The unique characteristics of GD plasma, which allow performing very fast surface erosion, are presented.
  Повний текст PDF - 351.628 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Чапон П.
  • Костенко О.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Чапон П. Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™ / П. Чапон, О. К. Костенко // Наука та інновації. - 2012. - Т. 8, № 2. - С. 34-38. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/scinn_2012_8_2_8.
    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Костенко Ольга Костянтинівна (економічні науки)
    •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського