Рассмотрено компьюторное моделирование измерительных устройств, содержащих матрицы электродов. Применен метод локальной весовой аппроксимации. Для квадратичного базиса предлагается специальное расположение узлов измерения, образующих матрицеподобную структуру (сеточный паттерн). Показано, что в таком случае вычисление как измеряемой в центральной точке паттерна скалярной величины, так и оценки ее производных в центральной точке могут быть произведены единообразно путем предварительного нахождения резольвенты. Рассмотрены примеры применения данного метода для поиска минимума функций двух переменных. Отмечена возможность использования для поиска минимумов функций с разрывами производных.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"