Предложена алгебрологическая модель для вычисления критериев тестопригодности системных HDL-моделей, ориентированная на существенное повышение качества проектируемых компонентов цифровых систем на кристаллах (yield) и уменьшение времени разработки (time-to-market). Разработанные критерии управляемости и наблюдаемости применены для оценки качества графа управления в целях его улучшения и эффективного диагностирования семантических ошибок. Практическая значимость предложенных методик и моделей заключается в рыночной привлекательности и высокой заинтересованности технологических компаний в инновационных решениях проблемы эффективного тестирования и верификации программно-аппаратных изделий.

  Повний текст PDF - 430.825 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"