Наукова періодика України | Радіоелектронні і комп’ютерні системи | ||
Хаханов В. И. Встроенное диагностирование цифровых систем / В. И. Хаханов, С. B. Чумаченко, Yves Tiecoura, С. С. Галаган // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2009. - № 7. - С. 314–318. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2009_7_58 Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения - System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip). Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Хаханов В. И. Встроенное диагностирование цифровых систем / В. И. Хаханов, С. B. Чумаченко, Yves Tiecoura, С. С. Галаган // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2009. - № 7. - С. 314–318. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2009_7_58. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |