Наукова періодика України Радіоелектронні і комп’ютерні системи

Хаханов В. И. 
Встроенное диагностирование цифровых систем / В. И. Хаханов, С. B. Чумаченко, Yves Tiecoura, С. С. Галаган // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2009. - № 7. - С. 314–318. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2009_7_58
Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения - System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip).
  Повний текст PDF - 273.838 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Хаханов В.
  • Чумаченко С.
  • Tiecoura Y.
  • Галаган С.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Хаханов В. И. Встроенное диагностирование цифровых систем / В. И. Хаханов, С. B. Чумаченко, Yves Tiecoura, С. С. Галаган // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2009. - № 7. - С. 314–318. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2009_7_58.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського