Наукова періодика України Радіоелектронні і комп’ютерні системи

Аль Мади М. К. 
Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования запоминающих устройств / Мади М. К. Аль, В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2006. - № 5. - С. 134–137. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2006_5_23
  Повний текст PDF - 273.303 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Аль М.
  • Андриенко В.
  • Рябцев В.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Аль Мади М. К. Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования запоминающих устройств / Мади М. К. Аль, В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2006. - № 5. - С. 134–137. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2006_5_23.
    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Рябцев Володимир Григорович (технічні науки)
    •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського