Исследование стабильности характеристик рН-чув-ствительных полевых транзисторов

Павлюченко, А. С.; Кукла, А. Л.; Голтвянский, Ю. В.; Архипова, В. М.; Дзядевич, С. В.; Солдаткин, А. П.


	Наукова періодика України		Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка

Павлюченко А. С.
Исследование стабильности характеристик рН-чув-ствительных полевых транзисторов / А. С. Павлюченко, А. Л. Кукла, Ю. В. Голтвянский, В. М. Архипова, С. В. Дзядевич, А. П. Солдаткин // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2010. - Вып. 45. - С. 90-99. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ont_2010_45_11

Повний текст PDF - 688.75 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Павлюченко А. С. Исследование стабильности характеристик рН-чув-ствительных полевых транзисторов / А. С. Павлюченко, А. Л. Кукла, Ю. В. Голтвянский, В. М. Архипова, С. В. Дзядевич, А. П. Солдаткин // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2010. - Вып. 45. - С. 90-99. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ont_2010_45_11.

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача