Наукова періодика України | Journal of thermoelectricity | ||
Shafranyuk V. P. Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry / V. P. Shafranyuk // Journal of thermoelectricity. - 2016. - № 4. - С. 59-66. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jtherel_2016_4_8 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Shafranyuk V. P. Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry / V. P. Shafranyuk // Journal of thermoelectricity. - 2016. - № 4. - С. 59-66. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jtherel_2016_4_8. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |