Наукова періодика України | Journal of Nano- and Electronic Physics | ||
Pavliuchenko A. M. The Wall Temperature Measurement and Effects on the Missile Complex Surface Based on the Semiconductor Diode and Electronic System / A. M. Pavliuchenko, O. M. Shyiko, T. I. Klochkova // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 3. - С. 03004-1-03004-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_3_6 Розв'язано проблему вимірювання з високою точністю температури стінки головної частини ракетного аерофізичного комплекса в польоті по траєкторії до висоти <$EH~symbol Г~8> км за умов зміни чисел Маха <$EM sub inf ~symbol Г~2,0>, Рейнольдса <$ERe sub {L,~inf } ~symbol Г~2~cdot~10 sup 7>, неізотермічності, роботи реактивного двигуна на твердому паливі (РДТП), прискорення <$Ea~symbol Г~>12g, що одночасно не моделюються в сучасних надзвукових аеродинамічних установках. Для вимірювання температури стінки цього об'єкта із різних матеріалів по довжині головної частини використовувались напівпровідникові діоди КД-521. Чутливість КД-521 складала 2,5 мВ/град. Бортова електронна і телеметрична системи мали високий рівень швидкісної дії і точності. Опитування напівпровідникових діодів КД-521 здійснювалось послідовно в часі через 5 мс, а похибка вимірювання температури стінки головної частини комплекса не перевищувала 1 %. Бортова електронна, телеметрична системи, напівпровідникові діоди КД-521 і дані про температуру стінки по довжині головної частини надали змогу розв'язати складні аерофізичні проблеми, пов'язані з безвідривним і відривним надзвуковим обтіканням головної частини ракетного комплекса за умов ламінарно-турбулентного переходу у пристінній течії - за взаємодії його з відривним обтіканням стінки. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Pavliuchenko A. M. The Wall Temperature Measurement and Effects on the Missile Complex Surface Based on the Semiconductor Diode and Electronic System / A. M. Pavliuchenko, O. M. Shyiko, T. I. Klochkova // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 3. - С. 03004-1-03004-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2019_11_3_6. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |