Можливість управління властивостями фотонних кристалів шляхом зміни параметрів шарів надає змогу створювати унікальні оптоелектронні пристрої. Властивості таких середовищ зумовлені утворенням дозволених і заборонених ділянок для електромагнітного випромінювання. Поведінка заборонених та дозволених зон (зони з високим відбиттям та високою прохідністю) добре описана теорією багатошарових покриттів. Фотонні кристали можна моделювати за допомогою багатошарових інтерференційних структур. Інтерференційні системи, що складаються зі змінних плівок необхідної оптичної товщини з високими та низькими показниками заломлення, надають змогу зменшити відбиття світла у вузькій чи широкій спектральній області, збільшити відбиття падаючого світла на різних ділянках спектральної ширини, відокремити вузьку спектральну область монохроматичного світла. Теоретичні дослідження можна проводити, використовуючи як матричні методи, так і аналітичні формули, які розроблені для багатошарових структур. Моделювання гетерогенного шару здійснюється шляхом заміни плавного розподілу показника заломлення на ступінчастий профіль. Кожен шар описується за допомогою матриць інтерференції. Розроблені розрахункові програми з використанням матричного методу надають змогу одержати задані оптичні характеристики (відбиття, пропускання) для будь-яких багатошарових покриттів. Проведено моделювання інтерференційного дзеркала з четверть хвильовими оптичними товщинами шарів, що чергуються, та нормальним падінням світла. Наведені графіки демонструють певний збіг результатів оптичних характеристик багатошарових покриттів, одержаних за допомогою матричного методу з експериментальним та числового FDTD (Fimte-Difference Time-Domain) методу. Багатошарова система з дефектним шаром має пік пропускання у забороненій зоні, тобто це звичайний інтерференційний фільтр. Таким чином фотонні кристали можна моделювати за допомогою багатошарових інтерференційних структур та обчислювати за допомогою матричних методів.

  Повний текст PDF - 380.486 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"