Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics


Chatterjee N. 
Simulation and Finite Element Analysis of Electrical Characteristics of Gate-all-Around Junctionless Nanowire Transistors / N. Chatterjee, S. Pandey // Журнал нано- та електронної фізики. - 2016. - Т. 8, № 1. - С. 01025-1-01025-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2016_8_1_27
Gate all around nanowire transistors is one of the widely researched semiconductor devices, which has shown possibility of further miniaturization of semiconductor devices. Thus structure promises better current controllability and also lowers power consumption. In thus paper silicon and indium Antimonide based nanowire transistors have been designed and simulated using multiphysics simulation software to investigate on its electrical properties. Simulations have been carried out to study band bending, drain current and current density inside the device for changing gate voltages. Further analytical model of the device is developed to explain the physical mechanism behind the operation of the device to support the simulation result.
  Повний текст PDF - 771.05 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Chatterjee N.
  • Pandey S.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Chatterjee N. Simulation and Finite Element Analysis of Electrical Characteristics of Gate-all-Around Junctionless Nanowire Transistors / N. Chatterjee, S. Pandey // Журнал нано- та електронної фізики. - 2016. - Т. 8, № 1. - С. 01025-1-01025-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2016_8_1_27.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського