Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics


Колупаев И. Н. 
Использование метода многопороговых сечений для анализа изображений микроструктуры поверхности / И. Н. Колупаев, В. О. Соболь // Журнал нано- та електронної фізики. - 2015. - Т. 7, № 4. - С. 04027-1-04027-9. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2015_7_4_29
Для количественной оценки развития физико-химических процессов на поверхности апробирован метод анализа многопороговых сечений изображений поверхностного рельефа. Показано, что замена полнопрофильного анализа на анализ периодической системы сечений вдоль оси интенсивности позволяет сделать достаточно простым определение фрактальной размерности сложных рельефов поверхности, сформированных в неравновесных условиях. Обсуждены проблемы компьютерного материаловедения сложных поверхностей и предложены пути их решения. Для процессов - травления стали с неметаллическими включениями, конденсации вакуумно-дуговых покрытий с капельной фазой, а также магнетронного осаждения в неравновесных условиях сильно-напряженных покрытий твердых растворов квазибинарных боридных систем установлена связь между особенностями структуры поверхности и ее фрактальной размерностью.
  Повний текст PDF - 1.22 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Колупаев И.
  • Соболь В.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Колупаев И. Н. Использование метода многопороговых сечений для анализа изображений микроструктуры поверхности / И. Н. Колупаев, В. О. Соболь // Журнал нано- та електронної фізики. - 2015. - Т. 7, № 4. - С. 04027-1-04027-9. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2015_7_4_29.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського