Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics

Shubham К. 
Electrical Characterization Of TiO2 Insulator Based Pd / TiO2 / Si MIS Structure Deposited By Sol-Gel Process / К. Shubham, R. U. Khan // Журнал нано- та електронної фізики. - 2013. - Т. 5, № 1(2). - С. 01021-1-01021-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2013_5_1%282%29__8
  Повний текст PDF - 445.508 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Shubham К.
  • Khan R.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Shubham К. Electrical Characterization Of TiO2 Insulator Based Pd / TiO2 / Si MIS Structure Deposited By Sol-Gel Process / К. Shubham, R. U. Khan // Журнал нано- та електронної фізики. - 2013. - Т. 5, № 1(2). - С. 01021-1-01021-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2013_5_1(2)__8.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського