Предложен метод локализации неисправных подсхем электронных устройств, который основан на принципе декомпозиции. Показано, что путем проверки определенным образом сформированных гипотез относительно состояния составных частей электронных устройств (суть – анализ их характеристик), можно выделить неисправную подсхему. Доказана эффективность метода локализации при диагностике электронных устройств.A method for locating faulty subcircuits electronic devices, which is based on the decomposition principle. It is shown that by checking in a certain way formed hypotheses about the state of the component parts of electronic devices (essence - analysis of their characteristics), we can distinguish the faulty subcircuit. Proven effective localization method in the diagnosis of electronic devices.Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який грунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть - аналіз їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.

  Повний текст PDF - 307.855 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"