Наукова періодика України | Электронная микроскопия и прочность материалов | ||
Григор’єв О. М. Підвищення точності кількісних оцінок графічного методу Холла—Вільямсона за рахунок цифрової обробки XRD-дифрактограм / О. М. Григор’єв, В. В. Картузов, Н. М. Роженко // Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. - 2017. - Вып. 23. - С. 16-35. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/empm_2017_23_5 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Григор’єв О. М. Підвищення точності кількісних оцінок графічного методу Холла—Вільямсона за рахунок цифрової обробки XRD-дифрактограм / О. М. Григор’єв, В. В. Картузов, Н. М. Роженко // Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. - 2017. - Вып. 23. - С. 16-35. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/empm_2017_23_5.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |