Наукова періодика України | Мікросистеми, Електроніка та Акустика | ||
Молчанов В. І. Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Electronics and communications. - 2015. - Т. 20, № 1. - С. 23-26. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eisv_2015_20_1_5 Розглянуто метод тонкого діелектричного резонатора для вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів, його переваги і недоліки. Показано, що запропонований метод має високу чутливість і може бути використаний для вимірювання параметрів тонких діелектричних плівок, нанесених на підкладку. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Молчанов В. І. Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Electronics and communications. - 2015. - Т. 20, № 1. - С. 23-26. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eisv_2015_20_1_5.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |