Досліджено поверхневу структуру захищеного від підробки паперу з позитивними та негативними водяними знаками за різних масштабів оцінювання - від мікрометрів до рівня нанометрів, на базі методів контактної профілометрії та атомно-силової мікроскопії. Виявлено, що структурні параметри поверхні захищеного паперу є неоднаковими для ділянок із водяними знаками і без. Результати вимірювання контактним профілометром надали змогу прослідкувати кореляцію між значеннями середнього арифметичного відхилення профілю та наявністю водяних знаків. Значення найбільшої висоти профілю не залежить від ділянки вимірювання, що може бути пов'язано з хаотичним розміщенням волокон і частинок наповнювача у паперовій масі, що виступають над лінією профілю. Аналіз значень середнього арифметичного відхилення профілю, отриманого методом атомно-силової мікроскопії показав, що для ділянок із негативними водяними знаками воно є більшим, ніж для ділянок із позитивними водяними знаками. Залежність найбільшої висоти профілю від ділянки вимірювання не прослідковується чітко. Це може бути пов'язано з тим, що розмір розглянутої ділянки (3000 x 3000 нм) охоплює лише частину волокна целюлози. Результати проведеного аналізу показали придатність обох методів для оцінки специфічних характеристик поверхні паперу, що визначає характер взаємодії даного виду паперу з друкарськими фарбами в процесі друку. Метод профілометрії надає змогу визначити параметри профілю поверхні паперу, сформованого певним чином, а метод атомно-силової мікроскопії надає можливість аналізувати морфологію його компонентів, що розміщені на поверхні (волокна, частинки наповнювача, тощо). Інформація про структурні властивості паперу надає змогу прогнозувати якість поліграфічного відтворення, зокрема чіткість відтворення тонких гільйошних ліній на водяних знаках, що є актуальним, оскільки попереджає відбракування поліграфічної продукції спеціального призначення.

  Повний текст PDF - 1.662 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"