Оценка шероховатости поверхностей, характеризуемых Ra << 0,01 мкм, может быть выполнена измерительной системой "Micron-alpha" на базе оптического прибора МИИ-4. Устройство цифровой фиксации последнего позволяет сканировать участок поверхности размером не более 250x190 мкм. Однако в этом случае из регламентированных стандартом ISO величины базовой длины (0,08 мм) и соотношения базовой длины и длины оценки (0,08/0,4) последнее не выполняется. Показано, что значения параметров шероховатости поверхности таких материалов, как сапфир и керамика на основе диоксида циркония, определенные указанной измерительной системой, сопоставимы с результатами оценки шероховатости, полученными при сканировании участка поверхности на порядок большего размера. Вместе с тем большая чувствительность такой методики оценки к местным дефектам поверхности - выходам пор на поверхность, мелким выколкам, царапинам, требует использовать при измерении не менее 10 трасс оценки.

  Повний текст PDF - 853.291 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"