Наукова періодика України | Вісник Національного університету "Львівська політехніка" | ||
Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Сер. : Автоматика, вимірювання та керування. - 2013. - № 753. - С. 37-44. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VNULP_2013_753_9 Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Совин Я. Р. Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, М. Ю. Стахів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Сер. : Автоматика, вимірювання та керування. - 2013. - № 753. - С. 37-44. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VNULP_2013_753_9.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |