Еліптична цільна пластина по зовнішній границі закріплена жорстко чи шарнірно. Визначено найнижчі власні частоти при симетричних коливаннях пластинки. З метою знаходження області визначення наближених рекомендованих формул для частотного параметра еліптичної жорстко затиснутої пластинки проведені розрахунки даного параметра при різних значеннях ексцентриситету. Для еліптичних пластин з ексцентриситетом менше ніж 0,5 всі формули і розрахунки дають практично один результат. Із збільшенням ексцентриситету результати суттєво відрізняються та необхідні подальші теоретичні та експериментальні дослідження для визначення функціональної залежності частотного параметра залежно від ексцентриситету. Для цільної еліптичної шарнірно закріпленої по зовнішньому контуру пластинки створено алгоритм визначення частотного параметра. На основі функцій Матье складено частотні рівняння і знайдено його найменші корні. Обчислені значення частотного параметра при симетричних і несиметричних коливаннях. Як і в випадку круглої шарнірно закріпленої по зовнішній границі пластинки із збільшенням ексцентриситет частоти збільшуються.

  Повний текст PDF - 1.03 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"