Наукова періодика України | Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка | ||
Pavlyuk S. P. Features of the current-voltage characteristics of the resistors made by "silicon with dielectric isolation” technology at high densities of leaking current / S. P. Pavlyuk, V. I. Gandziuk // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2013. - Вип. 2. - С. 247-250. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2013_2_45 Проведено дослідження вольтамперних характеристик (ВАХ) дифузійних резисторів, виготовлених за технологією "кремній з діелектричною ізоляцією" за густин протікаючого струму до 10<^>5 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Pavlyuk S. P. Features of the current-voltage characteristics of the resistors made by "silicon with dielectric isolation” technology at high densities of leaking current / S. P. Pavlyuk, V. I. Gandziuk // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2013. - Вип. 2. - С. 247-250. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2013_2_45. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |