Проведен детальный систематический анализ открытого явления уникальной информативности динамической картины рассеяния в кристаллах с дефектами, установлены его физическая природа и возможности практического использования. Главный результат работы - заложены принципы метода управления соотношением когерентной и диффузной составляющих картины динамической дифракции и соотношениями вкладов дефектов разного типа при неизменной дефектной структуре образца за счет изменения только условий дифракции, т.е. основы метода диффузной динамической комбинированной дифрактометрии (ДДКД). Созданы основы нового поколения кристаллографии - ДДКД, которая позволяет, не прибегая к недифрактометрическим методам исследований, обеспечивать полноту независимых экспериментальных данных для однозначного определения параметров дефектной структуры произвольной сложности.

  Повний текст PDF - 1.17 Mb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"