Наукова періодика України | Technology audit and production reserves | ||
Самойлов А. Н. Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника / А. Н. Самойлов, И. В. Шевченко // Технологический аудит и резервы производства. - 2016. - № 3(1). - С. 60-68. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tatrv_2016_3%281%29__11 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Самойлов А. Н. Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника / А. Н. Самойлов, И. В. Шевченко // Технологический аудит и резервы производства. - 2016. - № 3(1). - С. 60-68. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tatrv_2016_3(1)__11.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |