Наукова періодика України Фізична інженерія поверхні

Стервоедов А. Н. 
Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок / А. Н. Стервоедов, В. М. Береснев, Н. В. Сергеева // Фізична інженерія поверхні. - 2010. - Т. 8, № 1. - С. 88-92. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Phip_2010_8_1_14
  Повний текст PDF - 266.737 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Стервоедов А.
  • Береснев В.
  • Сергеева Н.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Стервоедов А. Н. Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок / А. Н. Стервоедов, В. М. Береснев, Н. В. Сергеева // Фізична інженерія поверхні. - 2010. - Т. 8, № 1. - С. 88-92. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Phip_2010_8_1_14.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського