Наукова періодика України | Фізична інженерія поверхні | ||
Стервоедов А. Н. Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок / А. Н. Стервоедов, В. М. Береснев, Н. В. Сергеева // Фізична інженерія поверхні. - 2010. - Т. 8, № 1. - С. 88-92. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Phip_2010_8_1_14 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Стервоедов А. Н. Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок / А. Н. Стервоедов, В. М. Береснев, Н. В. Сергеева // Фізична інженерія поверхні. - 2010. - Т. 8, № 1. - С. 88-92. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Phip_2010_8_1_14. Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |