Ekino T. 
Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe1-xTex / T. Ekino, A. Sugimoto, A. M. Gabovich // Физика низких температур. - 2013. - Т. 39, № 3. - С. 343-353. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2013_39_3_12
The iron-chalcogenide superconductor FeSe1-xTex (<$E0,5~<<~x~<<~1>) was investigated by scanning-tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS) and break-junction techniques. In the STM topography of the samples, randomly distributed Te and Se surface atomic structure patterns correlate well with the bulk composition, demonstrating that nanoscale surface features directly reflect bulk properties. The high-bias STS measurements clarified the gap-like structure at <$Esymbol Ы ~100~-~300> meV, which is consistent with the break-junction data. These highenergy structures were also found in sulfur substituted FeS0,1Te0,9. Possible origin of such spectral peculiarities is discussed. The superconducting gap <$E2 DELTA ~symbol Ы ~3,4~symbol С ~0,2> meV at temperature T = 4,2 K was found in the break junction of FeSe1-xTex with the critical temperature <$E T sub c~symbol Ы~10> K. The corresponding characteristic gap to <$ET sub c> ratio <$E2 DELTA "/" k sub B T sub c ~symbol Ы ~4~symbol С ~0,2> indicates moderate superconducting coupling (<$Ek sub B> is the Boltzmann constant).
  Повний текст PDF - 853.587 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Ekino T.
  • Sugimoto A.
  • Gabovich A.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Ekino T. Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe1-xTex / T. Ekino, A. Sugimoto, A. M. Gabovich // Физика низких температур. - 2013. - Т. 39, № 3. - С. 343-353. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2013_39_3_12.

      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського