Рудяк Ю. А. 
Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю. А. Рудяк, М. І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. - 2015. - Т. 51, № 2. - С. 68-71. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PHKhMM_2015_51_2_13
Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213 - 293 К. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорганічному склі розвинуто поляризаційно-оптичний метод для величин оптичної анізотропії, менших за l<$E lambda>, де <$E lambda> - довжина хвилі зондувального випромінювання. Для оцінки граничного стану триплексів, елементами яких є органічне і неорганічне скло та склеювальний шар, запропоновано фізико-механічний критерій граничного стану - критерій тензора діелектричної проникності. Проаналізовано міцність чотирьох варіантів триплексів (гомогенний без та з обрамленням, гетерогенний без та з обрамленням) і вибрано оптимальну конструкцію - гетерогенний триплекс без обрамлення.
  Повний текст PDF - 226.099 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Рудяк Ю.
  • Підгурський М.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Рудяк Ю. А. Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю. А. Рудяк, М. І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. - 2015. - Т. 51, № 2. - С. 68-71. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PHKhMM_2015_51_2_13.

    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Рудяк Юрій Аронович (фізико-математичні науки)
  • Підгурський Микола Іванович (технічні науки)
  •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського