Вивчено вплив іонної імплантації сіркою і фосфором на фазові переходи, структурні й оптичні властивості кристалів Cu₆PS₅X (X = І, Br) і тонких плівок на їх основі. Проведено структурні та оптичні дослідження неімплантованих та імплантованих за різних значень флуенсу (від 1x10¹¹ іон/см² до 2 x 10¹⁵ іон/см²) кристалів Cu₆PS₅X (X = І, Br). Встановлено, що імплантація сіркою та фосфором призводить до виникнення на поверхні кристалів індукованих структурних дефектів і помітно впливає на комбінаційне розсіювання світла, фотолюмінесценцію та фазові переходи. Виявлено урбахівську форму краю поглинання в імплантованих кристалах Cu₆PS₅X (X = І, Br). Встановлено суттєвий вплив іонної імплантації сіркою та фосфором на параметри краю оптичного поглинання, екситон-фононної взаємодії та структурне розупорядкування в кристалах Cu₆PS₅X (X = І, Br). Одержано аморфні тонкі плівки Cu₆PS₅ I за допомогою нереактивного радіочастотного магнетронного напилення та досліджено їх структурні та оптичні властивості. Виявлено, що імплантація іонами сірки та фосфору викликає у тонких плівках Cu₆PS₅I зміни оптичних параметрів на порядок більші, ніж у відповідних кристалах.

  Повний текст PDF - 247.335 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"