Фодчук І. М. 
Вплив опромінення високоенергетичними електронами на дефектну структуру монокристалів Cz-Si згідно високороздільної трикристальної Х-променевої дифрактометрії / І. М. Фодчук, В. В. Довганюк, В. П. Кладько, М. В. Слободян, Т. В. Литвинчук, З. Свянтек // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2008. - Вип. 420. - С. 40-44. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2008_420_8
Досліджено опромінені високоенергетичними електронами (Е = 18 МеВ) монокристали кремнію з використанням методів високороздільної Х-променевої дифрактометрії. Виявлено особливості поведінки КДВ та зміни форми контурів ізодифузних ліній. Для пояснення використано узагальнену динамічну теорію Брег-дифракції Х-променів у кристалах, що містять дефекти кількох типів (сферичні і дископодібні кластери та дислокаційні петлі) та порушений приповерхневий шар.
  Повний текст PDF - 561.541 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Фодчук І.
  • Довганюк В.
  • Кладько В.
  • Слободян М.
  • Литвинчук Т.
  • Свянтек З.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Фодчук І. М. Вплив опромінення високоенергетичними електронами на дефектну структуру монокристалів Cz-Si згідно високороздільної трикристальної Х-променевої дифрактометрії / І. М. Фодчук, В. В. Довганюк, В. П. Кладько, М. В. Слободян, Т. В. Литвинчук, З. Свянтек // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2008. - Вип. 420. - С. 40-44. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2008_420_8.

    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Фодчук Ігор Михайлович (технічні науки)
  •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського