Наукова періодика України | Науковий вісник Чернівецького університету | ||
Бурковець Д. М. Сингулярний підхід в аналізі розсіяння об’єктних полів шорсткими поверхнями / Д. М. Бурковець // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2008. - Вип. 420. - С. 65-70. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2008_420_14 Для визначення класу розподілу нерівностей шорсткої поверхні фрактального або випадкового з дисперсією фази неоднорідностей використано підхід, який базується на уявленнях сингулярної оптики. Одержано й проаналізовано карти нулів амплітуди поля залежно від зони реєстрації й параметрів випадкових і фрактальних шорстких поверхонь. Показано, що локальна густина розподілу нулів амплітуди поля розсіяного випромінювання є одним із можливих параметрів, який можна взяти за основу визначення класу розподілу нерівностей шорсткої поверхні - фрактальної або випадкової. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Бурковець Д. М. Сингулярний підхід в аналізі розсіяння об’єктних полів шорсткими поверхнями / Д. М. Бурковець // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2008. - Вип. 420. - С. 65-70. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2008_420_14.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |