Бурковець Д. М.
Сингулярний підхід в аналізі розсіяння об’єктних полів шорсткими поверхнями / Д. М. Бурковець // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2008. - Вип. 420. - С. 65-70. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2008_420_14
Для визначення класу розподілу нерівностей шорсткої поверхні фрактального або випадкового з дисперсією фази неоднорідностей використано підхід, який базується на уявленнях сингулярної оптики. Одержано й проаналізовано карти нулів амплітуди поля залежно від зони реєстрації й параметрів випадкових і фрактальних шорстких поверхонь. Показано, що локальна густина розподілу нулів амплітуди поля розсіяного випромінювання є одним із можливих параметрів, який можна взяти за основу визначення класу розподілу нерівностей шорсткої поверхні - фрактальної або випадкової.
Цитованість авторів публікації:Бурковець Д.
Бібліографічний опис для цитування:
Бурковець Д. М. Сингулярний підхід в аналізі розсіяння об’єктних полів шорсткими поверхнями / Д. М. Бурковець // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2008. - Вип. 420. - С. 65-70. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2008_420_14.
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)Бурковець Дмитро Миколайович (фізико-математичні науки)
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити
"Анкету науковця"
|