Смородин А. В.
Анализ наношероховатостей подложек с использованием левитирующих электронов над сверхтекучей плёнкой гелия / А. В. Смородин, В. А. Николаенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2011. - Т. 9, Вип. 4. - С. 849-854. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2011_9_4_14
Описано устройство для исследования наношероховатостей подложек путём анализа проводимости левитирующих электронов над плёнкой жидкого гелия в зависимости от её толщины. Устройство представляет собой камеру для сверхтекучего гелия и измерительную ячейку с подложкой, горизонтально расположенной над измерительными электродами, которые в вертикальном направлении перемещаются с помощью электромеханической тяги. По характеристикам переноса электронов имеется возможность идентифицировать наношероховатости размером от единиц ангстремов при ненасыщенной гелиевой плёнке до 10<^>2 нм при насыщенной плёнке гелия.
Цитованість авторів публікації:Смородин А.Николаенко В.
Бібліографічний опис для цитування:
Смородин А. В. Анализ наношероховатостей подложек с использованием левитирующих электронов над сверхтекучей плёнкой гелия / А. В. Смородин, В. А. Николаенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2011. - Т. 9, Вип. 4. - С. 849-854. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2011_9_4_14.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити
"Анкету науковця"
|