X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates

Safriuk, N. V.; Stanchu, G. V.; Kuchuk, A. V.; Kladko, V. P.; Belyaev, A. E.; Machulin, V. F.


	Наукова періодика України		Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics

Safriuk N. V.
X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates / N. V. Safriuk, G. V. Stanchu, A. V. Kuchuk, V. P. Kladko, A. E. Belyaev, V. F. Machulin // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 3. - С. 265-272. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_3_8

Повний текст PDF - 952.491 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Safriuk N. V. X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates / N. V. Safriuk, G. V. Stanchu, A. V. Kuchuk, V. P. Kladko, A. E. Belyaev, V. F. Machulin // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 3. - С. 265-272. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_3_8.

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

Кучук Андріан Володимирович (1979–) (фізико-математичні науки)

Бєляєв Олександр Євгенович (1947–) (фізико-математичні науки)

Мачулін Володимир Федорович (1950–2014) (фізико-математичні науки)

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача