Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions

Fodchuk, I. M.; Gutsuliak, I. I.; Zaplitniy, R. A.; Balovsyak, S. V.; Yaremiy, I. P.; Bonchyk, O. Yu.; Savitskiy, G. V.; Syvorotka, I. M.; Lytvyn, P. M.


	Наукова періодика України		Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics

Fodchuk I. M.
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions / I. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, I. P. Yaremiy, O. Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, I. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 3. - С. 246-252. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_3_5

Повний текст PDF - 867.531 Kb

Зміст випуску Google Scholar

Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:

Бібліографічний опис для цитування:

Fodchuk I. M. Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions / I. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, I. P. Yaremiy, O. Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, I. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2013. - Vol. 16, № 3. - С. 246-252. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2013_16_3_5.

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

Баловсяк Сергій Васильович (фізико-математичні науки)

Бончик Олександр Юрійович (фізико-математичні науки)

Литвин Петро Мар'янович (фізико-математичні науки)

Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"

Відділ інформаційно-комунікаційних технологій

Пам`ятка користувача