![]() | Наукова періодика України | ![]() | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics |
Burlachenko Yu. V. Methods of cluster analysis in sensor engineering: advantages and faults / Yu. V. Burlachenko, B. A. Snopok // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 4. - С. 393-397. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_4_15 We consider the crisp and fuzzy partitioning techniques of cluster analysis bearing in mind their application for classification of data obtained with chemical sensor arrays. The advantage of the cluster analysis techniques is existence of a parameter S(i) Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Burlachenko Yu. V. Methods of cluster analysis in sensor engineering: advantages and faults / Yu. V. Burlachenko, B. A. Snopok // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 4. - С. 393-397. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_4_15.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![]() |
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |