Наукова періодика України | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics | ||
Kladko V. P. X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures / V. P. Kladko, A. V. Kuchuk, N. V. Safryuk, V. F. Machulin, A. E. Belyaev, R. V. Konakova, B. S. Yavich // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 1-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_3 High resolution X-ray diffractometry (HRXRD) was used to investigate In Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Kladko V. P. X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures / V. P. Kladko, A. V. Kuchuk, N. V. Safryuk, V. F. Machulin, A. E. Belyaev, R. V. Konakova, B. S. Yavich // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 1-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_3.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |