Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции

Лизунов, В. В.; Бровчук, С. М.; Низкова, А. И.; Молодкин, В. Б.; Лизунова, С. В.; Шелудченко, Б. В.; Гранкина, А. И.; Рудницкая, И. И.; Дмитриев, С. В.; Толмачёв, Н. Г.

Установлено и количественно проанализировано различие деформационных зависимостей (ДЗ) когерентной (Rib) и диффузной (Rid) составляющих полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) как между собой, так и для каждого из нескольких типов дефектов, одновременно присутствующих в монокристаллическом образце. Это открывает принципиальную возможность определения параметров дефектов разного типа при использовании (наряду с вариацией условий дифракции) различных участков ДЗ ПИИДД с резкой ДЗ Rid/Rib (вклада диффузной составляющей). Показано, что при изменении условий Лауэ-дифракции от соответствующих приближению толстого кристалла к соответствующим приближению тонкого кристалла и при расширении области изменения степени упругой деформации появляется возможность управления интервалом и характером изменения отношения Rid/Rib, а в результате - чувствительностью ДЗ ПИИДД к типу и характеристикам микродефектов.


	Наукова періодика України		Металлофизика и новейшие технологии