Полученные методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) изображения поверхностей скалывания (100) слоистого кристалла In4Se3, интеркалированного серебром, отображают бороздчатую структуру (100) поверхностей скалывания в соответствии с результатами их структурно-кристаллографических исследований. Установлено отсутствие реконструкции поверхности (100) кристалла после интеркаляции серебром. Для поверхностей скалывания интеркалированных серебром кристаллов также характерным является наличие областей с "темными и светлыми пятнами", для которых отсутствует периодичность и которые обусловлены, согласно данным сканирующей туннельной спектроскопии (СТС), наличием или отсутствием на поверхности интеркалата. Спектры СТС однозначно позволяют сделать вывод о существовании на поверхности скалывания разных локальных областей, которые проявляют либо полупроводниковые, либо чисто металлические свойства. В целом данные СТС/СТМ указывают на неоднородное в наномасштабе распределение интеркалата серебра на поверхности скола.

  Повний текст PDF - 820.735 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"