Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (1) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>AT=Skibenko Application of microwave ray$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 2 Представлено документи з 1 до 2 |
|||
| 1. | 
Skibenko A. I. Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry [Електронний ресурс] / A. I. Skibenko, I. B. Pinos, Yu. V. Kovtun, E. I. Skibenko, E. V. Syus’ko // Ukrainian journal of physics. - 2016. - Vol. 61, № 8. - С. 715-721. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2016_61_8_9 Аналітично і числово вивчено можливість використання інтерферометрії плазми похилими мікрохвильовими променями для вимірювання густини в різних шарах плазми. Для моделювання методу запропоновано вид профілю густини з максимумом або декількома максимумами, кількість і положення яких можуть змінюватися за радіусом. Для такого профілю розглянуто особливості рефракції і можливість використання інтерферометри плазми похилими мікрохвильовими променями. | ||
| 2. | 
Skibenko A. I. Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry [Електронний ресурс] / A. I. Skibenko, I. B. Pinos, Yu. V. Kovtun, E. I. Skibenko, E. V. Syus’ko // Український фізичний журнал. - 2016. - Т. 61, № 8. - С. 721-727. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2016_61_8_9 Аналітично і числово вивчено можливість використання інтерферометрії плазми похилими мікрохвильовими променями для вимірювання густини в різних шарах плазми. Для моделювання методу запропоновано вид профілю густини з максимумом або декількома максимумами, кількість і положення яких можуть змінюватися за радіусом. Для такого профілю розглянуто особливості рефракції і можливість використання інтерферометри плазми похилими мікрохвильовими променями. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |