Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>AT=Morchenko Magneto-Ellipsometry Investigations of Multilayer$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Morchenko A. T. 
Magneto-Ellipsometry Investigations of Multilayer Nanofilms of Fe and Co [Електронний ресурс] / A. T. Morchenko, L. V. Panina, V. G. Kostishin, N. A. Yudanov, S. P. Kurochka, A. A. Sergienko, R. D. Piliposyan, N. N. Krupa // Journal of Nano- and Electronic Physics. - 2013. - Vol. 5, № 4(1). - С. 04002-1-04002-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnep_2013_5_4(1)__4
Spectral ellipsometry technique is demonstrated to be a useful tool for the investigation of optical and magneto-optical parameters of magnetic heterostructures. Ellipsometry parameters psi, DELTA were measured in the range of 350 - 1000 nm. Solving the inverse problem by a regression method the refractive index and thickness of the layers were deduced. Magneto-optical spectra were detected in the configuration of equatorial Kerr effect which is fully compatible with the ellipsometry measurements. Spectroscopic ellipsometry method of magnetic structure characterisation can be used for in situ monitoring of magnetic film growth in various processes such as magnetron sputtering, electron beam evaporation and ion beam sputtering.
Попередній перегляд:   Завантажити - 286.399 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського