Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>AT=Askerzade Frustration effect on escape$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. |
Askerzade I. N. Frustration effect on escape rate in Josephson junctions between single-band and three-band superconductors in the macroscopic quantum tunneling regime [Електронний ресурс] / I. N. Askerzade, A. Aydin // Фізика низьких температур. - 2021. - Т. 47, Вип. 4. - С. 309-314. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/PhNT_2021_47_4_4 Досліджено частоту переходів <$E roman {S~symbol О~R}> (із надпровідного S-стану в резистивний R-стан) у джозефсонівському контакті (ДК), який утворений s-хвильовими одно- (SB) та тризонними (ThB) надпровідниками (переходи SB/ThB) у режимі макроскопічного квантового тунелювання. Використано наближення ефективного критичного струму в SB/ThB контактах. Показано, що частота переходів має особливість у разі фрустраційних ефектів у ThB надпровідниках. Включення режимів Леггетта у ThB надпровідниках призводить до збільшення частоти переходів у триканальних ДК у порівнянні з одноканальними.
|
|
|