Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>AT=Aleinikov Effect of magnetic field$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Aleinikov A. B. 
Effect of magnetic field on hysteretic characteristics of silicon diodes under conditions of low-temperature impurity breakdown [Електронний ресурс] / A. B. Aleinikov, V. A. Berezovets, V. L. Borblik, M. M. Shwarts, Yu. M. Shwarts // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2012. - Vol. 15, № 3. - С. 288-293. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2012_15_3_20
Effect of magnetic field (up to 14 T) on current-voltage characteristics of silicon n<^>+-p diodes which manifests hysteresis loops related with low-temperature impurity breakdown has been studied. With growth of magnetic field, the hysteresis loops are narrowed and decreased in amplitude and then disappear, but the breakdown continues in a soft form. Planar design of the diode has allowed separating the influence of magnetic field on mobility of the carriers executing impact ionization of the impurities and on the ionization energy itself. Theoretical analysis of the experimental data permitted us to determine the dependence of the ionization energy on the magnetic field. As in other investigated semiconductors, our results demonstrate the dependence of <^>B<^>1/3-type. A model capable to explain qualitatively the mechanism of suppression of the hysteresis loops by magnetic field is proposed as well.
Попередній перегляд:   Завантажити - 2.426 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського